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飛納掃描電鏡結(jié)合孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，能夠輕松生成并分析掃描電鏡（SEM）圖像。一體化孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)能夠使用戶獲得孔徑的分布狀態(tài)、孔隙參數(shù)如孔徑尺寸和長寬比。全自動(dòng)化的孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)提供超越光學(xué)顯微鏡觀察水平的結(jié)果，帶來進(jìn)一步的探索和創(chuàng)新。生成報(bào)告時(shí)，可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出。
孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)使用戶更好地了解材料特性，可以提取出完整的孔徑詳細(xì)信息。孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)拉開了孔徑測量軟件的大幕。在探究多孔結(jié)構(gòu)對材料孔隙率和過濾工藝的影響時(shí)，這種分析尤其重要。
1）從飛納電鏡中直接獲取圖像
2）測量孔徑的屬性數(shù)據(jù)，如面積、長軸、短軸等
3）操作快捷方便，提高工作效率，使工作安排簡單化可預(yù)測
4）圖像采集自由化，數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)在網(wǎng)絡(luò)和 U 盤，便于分享、交流和參閱
5）導(dǎo)出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)時(shí)，可同時(shí)導(dǎo)出清晰圖片
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