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          飛納臺式電鏡參加 FOM 2016

           更新時間:2016-03-22 點擊量:5034

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          Focus On Microscopy 2016(FOM 2016)是一次顯微技術的年度會議。該會議不僅展示的顯微技術,而且還展示這些新技術在生物、醫藥和材料科學領域的應用。

           

          會議時間:2016 年 3 月 20 日 - 23 日

          會議地點:國立中國臺灣大學醫學院附設醫院

           

          此次飛納臺式電鏡參加 FOM 2016,將在會上展示飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 和飛納臺式整合光電關聯顯微鏡 Delphi 德飛。

           

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          2015 年,飛納電鏡制造商荷蘭 Phenom-World 正式推出兩款性能的臺式電鏡,飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 和飛納臺式整合光電關聯顯微鏡 Delphi 德飛。新產品繼承了飛納臺式掃描電鏡*優勢,例如采用高亮度的 CeB6 燈絲,顯著提升電鏡分辨率;快速抽真空;快速成像;彩色光學導航;全自動馬達樣品臺等。

           

          同時拓展了其他功能,例如飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 電鏡腔室為 100 mm X 100 mm,一次可容納至少 36 個 1/2 英寸樣品臺;提供高、中、低三級真空,標配高靈敏度四分割背散射電子探測器,可以選配二次電子探測器。

           

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          飛納臺式整合光電關聯顯微鏡 Delphi 德飛通過熒光快速定位,電鏡高倍觀察,并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像,實現在一張圖像中同時獲得樣品精細結構和功能物質信息。飛納臺式整合光電關聯顯微鏡 Delphi 德飛采用對射光路結構,無需轉移樣品,運用的圖像自動疊加,關聯。從樣品裝載到獲取光電關聯圖像的時間小于 3 分鐘。傳統的關聯技術是通過兩臺顯微鏡來實現的,德飛將兩種顯微鏡的功能集成到一臺顯微鏡中。

           

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          飛納臺式電鏡預祝 Focus On Microscopy 2016(FOM 2016)取得圓滿成功!

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          郵箱:info@phenom-china.com

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