復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
          資料下載
          您現(xiàn)在所在位置:首頁 > 下載中心 > 利用掃描電鏡全面了解樣品

          利用掃描電鏡全面了解樣品

           發(fā)布時(shí)間:2017/11/13 點(diǎn)擊量:1550
          • 提 供 商:

            復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

            資料大小:

          • 圖片類型:

            資料類型:

            PDF
          • 下載次數(shù):

            134

            點(diǎn)擊下載:

            文件下載    

          詳細(xì)介紹:

          樣品名稱

          鉛電池極片框架

           

          樣品類型

          金屬,固體

           

          是否噴金

          未噴金

           

          設(shè)備型號(hào)

          飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pure+

           

          測(cè)試項(xiàng)目

          • 掃描電鏡

               背散射探頭模式

               Topo 模式

               3D 粗糙度重建

               二次電子探頭

          • 能譜:

               EDS mapping

           

          測(cè)試目的

          表面鍍層質(zhì)量觀察

           

          傳真:

          郵箱:info@phenom-china.com

          地址:上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng) T5,705 室

          版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司   備案號(hào):滬ICP備12015467號(hào)-2  管理登陸  技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)  GoogleSitemap